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在光學(xué)制造的微觀世界里,光的強(qiáng)度即真理的尺度。當(dāng)表面瑕疵進(jìn)入亞微米級,傳統(tǒng)檢測光源便如風(fēng)中殘燭,難以照亮質(zhì)量的最后邊界。今天,400,000勒克斯不再只是一個(gè)數(shù)字,而是由日本山田光學(xué)YP-150ID專業(yè)強(qiáng)光燈樹立的全行業(yè)檢測亮度基準(zhǔn)。它代表的不只是未有的照明強(qiáng)度,更是一場對光學(xué)表面檢測精度、效率與可靠性的系統(tǒng)性革新。
光學(xué)表面檢測的本質(zhì),是利用光線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生的明暗、對比與色彩信號。照度(lx)作為單位面積上的光通量,直接決定了信號的強(qiáng)度與清晰度。在邁向納米級精度的道路上,原有檢測基準(zhǔn)已顯疲態(tài):
傳統(tǒng)高亮度光源:通常在50,000-150,000 lx范圍,對于超過1微米的明顯劃痕或污漬足夠,但面對深/寬小于0.2微米的淺表微痕、拋光殘留的亞表面損傷,或極其輕微的霧狀薄膜(Haze)時(shí),無法產(chǎn)生足夠的對比度,缺陷信號淹沒在背景噪聲中。
漏檢的代價(jià):這些在常規(guī)檢測下“隱身"的缺陷,可能導(dǎo)致鏡頭出現(xiàn)無法解釋的雜散光、激光元件的閾值損傷降低,或傳感器出現(xiàn)暗點(diǎn),問題往往在客戶端甚至終端產(chǎn)品中才暴露,引發(fā)巨額索賠與信譽(yù)危機(jī)。
效率瓶頸:為發(fā)現(xiàn)極限缺陷,操作員不得不1反復(fù)調(diào)整角度、延長觀察時(shí)間,依賴個(gè)人經(jīng)驗(yàn)與眼力,導(dǎo)致檢測效率低下、結(jié)果一致性差,成為產(chǎn)線 throughput(吞吐量)的瓶頸。
400,000lx超高照度的價(jià)值,正在于它打破了這一信號強(qiáng)度的天花板。 它將缺陷信號(尤其是微小瑕疵的散射/衍射光)強(qiáng)力“放大",使其在肉眼或輔助光學(xué)儀器下變得清晰可辨,從而將檢測能力從“微米級"推進(jìn)到穩(wěn)定的“亞微米級",為行業(yè)設(shè)立了新的性能門檻。
山田光學(xué)YP-150ID并非簡單追求亮度數(shù)值,而是構(gòu)建了一個(gè)以超高照度為核心,融合精準(zhǔn)光學(xué)設(shè)計(jì)、智能熱管理與人性化交互的完整高精度檢測系統(tǒng)。
YP-150ID的核心是特制的超高壓鹵素?zé)簦浜仙疃葍?yōu)化的橢圓冷反射鏡。這種組合實(shí)現(xiàn)了兩點(diǎn)突破:
極1高光通量匯聚:將光源發(fā)出的絕大部分可見光高效匯聚于工作距離(140mm)處的標(biāo)準(zhǔn)檢測面(φ30mm)上,從而在目標(biāo)區(qū)域產(chǎn)生極1致的能量密度,即400,000lx的震撼照度。
純凈的光譜輸出:鹵素?zé)籼峁┻B續(xù)、完整的光譜,確保了極1高的顯色性,使檢測不僅是“看清",更是“看真",為色彩判別類檢測(如鍍膜)奠定了基礎(chǔ)。
如此高的光能輸出,傳統(tǒng)方案必然伴隨巨大的熱輻射。YP-150ID采用的冷反射鏡技術(shù)是關(guān)鍵革新。其鏡面特殊鍍膜能反射超過95%的可見光,同時(shí)透射80%以上的紅外線(熱量)。這意味著:
照射到工件表面的熱負(fù)荷被削減至普通鋁反射鏡的1/3以下。
檢測人員可以長時(shí)間手持操作而不會感到灼熱不適。
保護(hù)對溫度極度敏感的光學(xué)元件(如特殊鍍膜、膠合件、塑料光學(xué)件),在最1強(qiáng)光線下檢查也無需擔(dān)心熱損傷。
新基準(zhǔn)不僅關(guān)乎峰值性能,也關(guān)乎適應(yīng)性。YP-150ID允許操作者:
在φ30-50mm范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)光斑直徑,從聚焦于微小鏡片的局部到掃描基板的邊緣,一燈兼顧。
一鍵切換高/低兩檔照度。高強(qiáng)度用于極限缺陷搜尋,低強(qiáng)度用于快速常規(guī)巡檢或觀察高反射率表面,智能匹配不同檢測階段的需求,提升整體工作效率。
當(dāng)400,000lx成為新的標(biāo)準(zhǔn)光源,它重新定義了多個(gè)關(guān)鍵檢測場景的可能性:
極限缺陷的常規(guī)化檢測:
以往需要依賴昂貴且復(fù)雜的離線式自動光學(xué)檢測(AOI)設(shè)備或干涉儀才能穩(wěn)定發(fā)現(xiàn)的亞微米級劃痕、點(diǎn)狀缺陷(<0.2μm),現(xiàn)在通過YP-150ID配合顯微鏡或高倍放大鏡,即可在產(chǎn)線旁實(shí)現(xiàn)快速、可靠的目視或半自動篩查。這相當(dāng)于將實(shí)驗(yàn)室級的能力部署到了每一個(gè)制程節(jié)點(diǎn)(IPQC)。
工藝波動的超前洞察:
超高照度能揭示拋光工藝中因壓力、溫度微小波動導(dǎo)致的材料去除率差異,表現(xiàn)為極其細(xì)微的表面紋理變化。這為工藝工程師提供了近乎實(shí)時(shí)的微觀反饋,使過程控制(SPC)得以在納米尺度上進(jìn)行,從源頭提升良率,而非事后篩選。
材料與膜層評價(jià)的深化:
對于光學(xué)玻璃的內(nèi)部均勻性、應(yīng)力雙折射條紋,以及多層鍍膜的極輕微厚度不均勻性,超高亮度與高顯色性的結(jié)合,提供了無1與倫比的觀察條件。評價(jià)標(biāo)準(zhǔn)得以從“有無明顯問題"提升到“均勻性達(dá)到何等優(yōu)異水平"。
山田光學(xué)YP-150ID定義的“新基準(zhǔn)",是一個(gè)多維度的綜合性能包絡(luò):
性能基準(zhǔn):400,000lx的照度是硬核指標(biāo)。
可靠性基準(zhǔn):穩(wěn)定的色溫輸出、長壽命的光源設(shè)計(jì)(約50小時(shí)),確保檢測標(biāo)準(zhǔn)在時(shí)間與批次上的一致性。
安全性與人性化基準(zhǔn):低熱輻射設(shè)計(jì)保護(hù)工件與操作者,靈活的光斑與模式切換降低工作強(qiáng)度。
效率基準(zhǔn):強(qiáng)大的缺陷揭示能力縮短了判斷時(shí)間,減少了復(fù)檢與爭議,提升了整體檢測通量。
在光學(xué)制造競爭日益聚焦于“極限性能"與“終1極可靠"的今天,檢測能力就是質(zhì)量主權(quán)。山田光學(xué)YP-150ID以 400,000lx的物理高度,樹立了光學(xué)表面檢測的行業(yè)新高度。它意味著企業(yè)不再需要在高精度、高效率與低成本之間艱難權(quán)衡。
選擇YP-150ID,就是選擇將最嚴(yán)苛的客戶標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)化為日常的檢測流程;就是選擇讓每一個(gè)出廠的光學(xué)元件,都經(jīng)得起未來成像系統(tǒng)或激光器的放大審視。這不僅是引進(jìn)一盞燈,更是為企業(yè)的質(zhì)量體系安裝了一顆永1不妥協(xié)的“光學(xué)心臟",在追求完1美的道路上,讓一切瑕疵,在真正的強(qiáng)光之下,無所遁形。